薄膜厚度測量儀的優(yōu)點(diǎn)和使用注意事項是什么？
2020-04-16
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薄膜厚度測量儀作為一種測量膜層厚度的儀器，在很多的行業(yè)領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用，尤其是薄膜厚度測量儀，因為測量精度高、非接觸方、無須破壞樣品等優(yōu)點(diǎn)，受到眾多企業(yè)用戶和高校老師的喜愛，今天主要對薄膜厚度測量儀做個簡單介紹。
一、薄膜厚度測量儀的優(yōu)點(diǎn)
1、非接觸式測量
薄膜厚度測量儀采用的原理是通過光的反射原理對膜層厚度進(jìn)行測量，屬于非接觸式測量方法，不會對樣品造成任何損傷，能夠樣品的完整性。
2、測量數(shù)據(jù)多樣
可以測得物體的膜厚度和n，k數(shù)據(jù)，這是其它類型的膜厚儀所不具備的特點(diǎn)。
3、測量快速
薄膜厚度測量儀的測量過程非?？焖伲驗樵撛O(shè)備采用了的結(jié)構(gòu)設(shè)計，能夠極大程度的提升測量效率，相比于其他類型膜厚測量設(shè)備來說顯得非常輕巧方便。
4、適用范圍廣
薄膜厚度測量儀的適用范圍非常廣泛，從普通家用到工廠的工業(yè)生產(chǎn)，再到大學(xué)實驗室和科學(xué)研究所，都可以看到它的身影，由此可見它的使用范圍廣泛，能夠作業(yè)的場合也變得更加多樣化。
二、薄膜厚度測量儀的使用注意事項
1、零點(diǎn)校準(zhǔn)
在每次使用膜厚儀之前需要進(jìn)行光學(xué)校準(zhǔn)，因為之前的測量參數(shù)會影響該次對物體的測量，零點(diǎn)校準(zhǔn)可以消除前次測量有參數(shù)的影響，能夠降低測量的結(jié)果的誤差，使測量結(jié)果更加。
2、基體厚度不宜過薄
在使用薄膜厚度測量儀對物體進(jìn)行測量時基體不宜過薄，否則會極大程度的影響儀器的測量精度，造成數(shù)據(jù)結(jié)果不，影響測量過程的正常進(jìn)行。
3、物體表面粗糙程度
對于被測物體的表面不宜太過粗糙，因為粗糙的表面容易引起光的衍射，降低了薄膜厚度測量儀的測量精度，造成很大的誤差。所以被測物體的表面應(yīng)該盡量保持光滑，以測量結(jié)果的性。
